電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けDCテストの基礎技術
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歪率測定(全高調波:周波数可変)
ボルトメータ、発振器とウィーンブリッジ・負帰還アンプよる歪率測定
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バルボル(真空管電圧計)と発振器による測定
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測定データのプロセス
DCテストの基礎
定電流源と定電圧源
差動電圧測定
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シーケンスDC測定の基本動作
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クロストーク測定
EVM評価法
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EVMの不良解析フロー
RFデバイスの新しいEVM測定手法
RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
RFパワーアンプの伝達関数のモデル
RFパワーアンプの伝達関数の測定例
RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
テスト時間短縮の基礎
バックグラウンド処理
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時分割の信号処理
周波数分割の信号処理
ATEのテスト並列化
テスタの同時測定(効率化を含む)の歩み
テスタの同時測定(DCリソース)の歩み
テスタの同時測定(ACリソース)の歩み
マルチサイト対応ソフトの構成
主要テスタ構成
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ローエンドテストの基礎技術@
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シーケンスDC測定の基本動作と構成
デジタル信号処理入門
デジタル信号処理とは その1
デジタル信号処理とは その2
サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
デジタル信号処理の基礎
時間軸の離散システム
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アンダーサンプリング
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DFT(離散フーリエ変換)
FFT
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