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創作幸房の半導体テスト入門:デバイス総集編 > テスト時間短縮の基礎 > シングルポートとデュアルポートメモリ
テスト設定とデータキャプチャ・転送と測定演算 ・新しいデータのキャプチャとすでにキャプチャしたデータの転送を同時に行う